基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路 ＨＴＬ电路测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for HTL circuits |
| 中标分类： |
化工 >>
化工综合 >>
技术管理 |
| 替代情况： | 原标准号GB 3440-82 |
| 发布日期： | 1996-11-20 |
| 实施日期： | 1997-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 16页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 化工 化工综合 技术管理
【英文标准名称】:Safetyofhouseholdandsimilarelectricalappliances;part2:particularrequirementsforelectrickitchenmachines(IEC335-2-14:1984,modified);germanversionEN60335-2-14:1988+A1:1990+A51:1991
【原文标准名称】:家用及类似用途的电器的安全.第2部分:电厨房机械的特殊要求
【标准号】:DINVDE0700T.14-1992
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】: